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AI 時代高速互連之賦能元器件驗證新趨勢研討會
4 月 9 日
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Topic
1
向量信號源於通訊元器件品質及特性表徵之嶄新應用
2
全新 VNA 架構提升 FR3 射頻與微波元器件測試效能
3
AI 時代高速及高頻纜線測試自動化之創新突破
4
224 Gbps 高速互連之挑戰及先進方案
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型錄/網頁名稱
1
Wireless 無線通訊測試資源網
2
6G 資源網
3
6G 創新資源網
4
AI 資源網
5
AI/ML for EDA
6
使用 Keysight PathWave/EDA 加快您的工作流程
7
高速數位系統設計 High-Speed Digital System Design
8
光學量測方案 Photonic Test & Measurement
9
材料測試 Materials Test
10
汽車與能源 Automotive & Energy
11
網路分析儀
12
頻譜(信號)分析儀
13
信號產生器(源)
14
功率元件分析儀 / 曲線追蹤儀
15
WBG(寬能隙)動態功率元件分析儀 / 雙脈衝測試儀
16
任意波形產生器 Arbitrary Waveform Generators
17
I/V 及電源量測設備 SMU(Source Measure Units)
18
示波器 Oscilloscopes
19
Infiniium DCA 取樣示波器 Infiniium DCA Equivalent-time Sampling Oscilloscopes
20
誤碼率測試儀 Bit Error Ratio Testers
21
4080 系列半導體參數測試系統 Parametric Test Systems
22
Samtec 美商深特有限公司台灣分公司
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